使用REX2 DLA探头轻松进行高分辨率腐蚀成像

在使用HydroFORM扫查器时通过选择REX2双晶线性阵列探头，提高腐蚀成像的多功能性和效率。

• 通过倾斜放置发射器-接收器的晶片阵列，可获得很高的近表面分辨率，从而可查看更接近表面的关键缺陷。
• 针对相位相干成像（PCI）和全聚焦方式（TFM）成像进行了优化，改进了对H2S等腐蚀机制的检测。
• 硬楔块悬挂系统无需外接水泵，从而简化了在难以进入区域进行的检测，如需要借助绳索攀爬到高处进行的检测。
• 与硬质合金系统相比，轮子的稳定性能可使扫查更顺畅。
• 64毫米长的有效区域和更大的覆盖范围（双64晶片或双32晶片）加速了数据采集，允许使用自动扫查器进行高通量扫查，如电动MapROVER扫查器和可远程控制的SteerROVER 扫查器。

完整的PA解决方案

HydroFORM扫查器与OmniScan X4多技术探伤仪

通过将水柱系统与OmniScan X4软件中界面回波上的闸门同步相结合，HydroFORM扫查器可提供一流的信号质量、可靠的剩余壁厚测量结果，在缺陷表征和成像方面大大优于传统UT。

与REX2 DLA探头结合使用时，HydroFORM扫查器可进一步提高近表面分辨率，适用于恒定水流不切实际或逻辑上不可能实现的应用。REX2 DLA探头还兼容新型高级超声技术，如TFM和PCI。