用于测量显微镜的STM7-BSW测量支持软件有助于提高检测的效率。您采集和显示图像、进行观察和测量以及创建报告的操作全都可以在同一屏幕中完成。

• 对形状复杂的物体进行更准确、快速和简单的测量
• 使用全系列摄像头采集清晰、锐利的图像，实现高度准确的测量
• 放置样品即可开始测量，无需进行平行校直
• 记录重复测量程序
• 方便的功能可消除测量中的主观性
• 可定制报告生成
• 高级采集功能

快速准确地测量形状复杂的物体

清楚、方便地查看测量显微镜的输出显示至关重要。该软件就是为了实现这一目的而开发的，这有助于以更高的准确性进行复杂的测量。该软件还使您能够利用数字显微镜摄像头。

STM7-BSW样品接口

使用我们的数字显微镜摄像头采集清晰、锐利的图像

高性能并提供快速实时显示

物超所值，具有高性价比

放置样品即可开始测量，无需进行平行校直

原始轴	新轴

XZ平面测量

	传统测量显微镜直接从上方测量XY平面。但为了满足用户的需求，我们在STM7-BSW中纳入了XZ平面测量功能，以实现从侧面看到的横截面的测量。现在，许多过去难以完成的测量变得容易多了，比如半球形物体垂直截面的半径测量，或者弧形底面凹槽相对于基准线深度的测量。
半球形样品的半径测量	凹槽底面距离基准线的高度测量

记录经常使用的测量程序

宏记录

经常使用的校直和其他测量程序可以结合起来，并分配给一个宏按钮，这样就不必每次都从头开始设置显微镜。

重放测量 

只需根据软件的提示输入载物台的移动和坐标，就可以根据记录的工作流程轻松地重复测量。该功能可用于对同一样品或同一样品的不同版本重复进行相同的测量。 此外，如果在记录的工作流程中设置了设定值和公差，软件可以自动识别测量失败的情况。

重放测量的测量点导航

该功能显示方向和与下一个测量点的距离，从而帮助最大限度地减少操作员的困惑。此外，该功能还避免了每次都要检查图上的下一个测量点，从而通过一系列重复测量加快了工作流程。

方便的功能消除了测量的主观性

自动边沿探测

这个功能可以探测样品的边沿，并自动采集和测量其坐标。因此，您不再需要指定坐标，从而最大限度地减少了主观性。自动边沿探测还具有一个计时器，能够在指定的时间内采集坐标，并支持使用脚踏开关，让操作员能够专注于测量操作，而无需从载物台上把手上移开。

圆圈内的自动边沿探测

多点自动边沿探测

异常点消除

在边沿探测过程中，金属毛刺和其他异常点可以被自动排除。这样一来，无论样品状态如何，都可以让测量值的计算保持一致。被视为异常而排除的点也可以用不同的颜色显示在屏幕上。

具有异常点的样品

异常点消除

照明控制

显微镜的光强可以通过准确的软件控制进行保持。在记录工作流程以进行重放测量时，也可以保存光强设置，从而在重放或自动边沿探测期间可以在相同的条件下进行测量。

自动放大倍率识别（可选，仅适用于编码物镜转换器配置）

使用编码物镜转换器可以在更换物镜时自动调用以前设置的校准值。这样您就可以确信显示的比例适当。

高级采集功能

多图像校直(MIA)（可选）

将多个图像拼接起来，以采集一幅高放大倍率的大面积图像。由于图像是根据坐标数据拼接的，因此该系统能够产生高度可靠的图像。

扩展聚焦图像(EFI)（可选）

EFI功能对于在具有不均匀、复杂表面形状的样品上获取整体充分聚焦的图像是有效的。生成一幅所有位置的焦点均对齐的图像。
只需在移动Z轴的同时处理具有不同焦点位置的多个图像，或使用电动型号进行自动图像合成。

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