概览

利用尖端先进的光学及成像技术设计的奥林巴斯BX61显微镜可应用于各个材料科学领域。

奥林巴斯专注于为各个层面的工作需求提供显微镜系统解决方案支持。

BX61TRF/BX-RLAA/U-AFA2M/DP系列

BX61专为配合奥林巴斯激光自动对焦显微镜使用而特别设计。利用精确对焦和主动跟踪功能，使用者可提升常规检测的效率。照明亮度、物镜选择以及孔径光阑设定等设置均可利用显微镜机架上的按钮、控制面板键盘，或通过PC计算机进行设定。包括物镜转换器和照明器在内的各种电动模块可让您获得配置系统的全面灵活性。

优良的图像清晰度和出众的分辨率

可供选择的诸多物镜帮助您实现系统定制

奥林巴斯可提供适合各种观察技术的全系列物镜。您可从我们多达150多个物镜中，挑选出适合您应用的物镜。色彩保真度对于准确、高效率的检测非常关键。结合精选高透过率玻璃和先进镀膜技术的UIS2系列物镜能够获得自然的色彩再现。

观察图像举例

磁头 (明场)

DVD (明场)

晶圆 (荧光)

滤色片 (透射)

诸多系列可供各种用途选用
MPLAPON	平场复消色差物镜系列
MPLFLN	平场半复消色差物镜系列
MPLFLN-BD	明暗场型平场半复消色差我
MPLFLN-BDP	明场、暗场和相分析型平场半复消色差物镜系列
LMPLFLN	明场型长工作距离平场半复消色差物镜系列
LMPLFLN-BD	明暗场型长工作距离平场半复消色差物镜系列
MPLN	明场型平场消色差物镜系列
MPLN-BD	明暗场型平场消色差物镜系列
SLMPLN	超长工作距离平场消色差物镜系列
LCPLFLN-LCD	LCD使用的长工作距离消色差物镜系列
LMPLN-IR/LCPLN-IR	近红外长工作距离平场消色差物镜系列

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软件解决方案

专为便于配合数码照相机和图像分析软件使用而打造

我们的全系列数码相机具有高分辨率观察和快速图像传输功能，而先进的奥林巴斯图像分析软件可以让使用者如虎添翼，为现今复杂的金相观察要求提供所需的全部工具。从扩展测量、标准金相分析和高级金相应用特定模块（十多种日常特定应用）中做出选择，仅需点击鼠标就可完成数据自动生成并创建符合ASTM和ISO规范要求的报告。

> 点击此处查看奥林巴斯数码照相机系列产品

> 点击此处查看奥林巴斯软件系列产品

技术规格

光学系统	UIS2光学系统（无限远校正）
显微镜机架 > 照明	反射/透射
显微镜机架 > 照明	外部12 V 100 W光源光强预设开关 LED电压指示灯反射/透射切换开关
显微镜机架 > 对焦	电动对焦行程25 mm 最小刻度 0.01 μm
显微镜机架 > 最大样品高度	25 mm (不含高度适配器)
观察筒> 大视野 (F.N. 22)	倒像：双目、三目、倾斜式双目正像：三目、倾斜式双目
观察筒> 超大视野 (F.N. 26.5)	倒像：三目正像：三目、倾斜式三目
反射光照明> 明场等	BX-RLAA 电动明场/暗场切换电动孔径光阑
反射光照明> 反射荧光	BX-RFAA 电动6孔位转换器内置电动光闸带视场光阑、孔径光阑
透射光	100W 卤素灯阿贝/长工作距离聚光镜内置透射光滤色片(LBD, ND25, ND6)
转动物镜转换器 > 用于明场	电动六孔
转动物镜转换器 > 用于明场/暗场	电动五孔、电动六孔、对中五孔
载物台	同轴左手（右手）操作载物台： 76 (X) x 52 (Y) mm, 带扭力调整功能大型同轴左手（右手）操作载物台：10 0(X) x 105 (Y) mm, 带Y轴锁定机构
尺寸	约 318 (W) x 602 (D) x 541 (H) mm
重量	大约25.5 kg （显微镜机架11.4 kg）

应用照片集

BX61让您获得理想的图像

暗场

表面贴装基板

暗场可以让您观察到样品的散射或衍射光。来自灯泡的光线经过照明器上的环形照明光学器件汇聚到样品上。样品上的光线只会被高度上的缺陷所反射。用户甚至可以识别出极细微的划痕，或小到8nm级别的缺陷–比光学显微镜的分辨能力还要小。因此，暗场是检测标本上细微划痕或缺陷，以及镜面标本（包括晶圆）的理想工具。

偏振光

石棉	偏振光这种显微镜观察技术使用了由一套滤色片（检偏镜和起偏镜）产生的偏光。标本的特性直接影响显微镜反射光的强度。这种技术适用于金相组织（比如球墨铸铁上石墨生长的形态）、矿石、LCD和半导体材料。

微分干涉差(DIC)

磁头	微分干涉是一种显微镜观察技术，这种技术把明场观察所不能检测到的标本高度差，变为浮雕状或三维图像，改善了图像衬度。该技术以偏振光为基础，并采用三个专门设计的棱镜满足您的需求。它是检查具有极小高度差标本的理想工具，包括金相组织、矿石、磁头、硬盘介质和抛光晶圆表面。

荧光

半导体晶圆上的颗粒异物

该技术使照明光线通过专用滤色片模块，激发标本发出的荧光（与激发光的波长不同的光）进行观察。特定的激发块可用于特定的应用。它适合于检查半导体晶圆上的异物、光阻残留物，以及通过荧光染料检测裂缝。可以选配复消色差集光镜系统的灯箱，以补偿从可见光到近红外光的色差。

透射光观察

LCD滤色片

对于透明样品，比如LCD、塑料和玻璃材料，可以使用各种聚光镜进行透射光观察。您可以在一个便利的系统内完成对样品的明场、暗场、DIC和偏光成像观察。

BX61

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