GX53显微镜和PRECiV软件可为满足各种行业标准要求的金相分析方法提供支持。通过分步操作指导,用户可轻松快捷地完成样品分析。
计数和测量解决方案采用高级阈值法,能够可靠地分离目标(如颗粒和划痕)与背景。可使用超过50种不同的参数对样品进行测量或评级,包括形状、大小、位置和像素特性等。
常规软件 | 蚀刻钢的微观结构 | PRECiV |
晶粒分类结果
测量晶粒尺寸并分析铝、钢晶体结构(例如铁素体和奥氏体)以及其他金属的微观结构。
支持的标准:ISO、GOST、ASTM、DIN、JIS、GB/T
铁素体晶粒的微观结构
晶粒度截点法解决方案 | 第二相的晶粒度面积法解决方案 |
评估铸铁样品(球墨和蠕墨)的石墨球化率和含量。对石墨节点的形态、分布和大小归类。
支持的标准:ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T
显示球状石墨结构的延性铸铁
铸铁解决方案
对在恶劣视场采集图像中的非金属夹杂物或手动发现的恶劣夹杂物进行分类。
支持的标准:ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI
含非金属夹杂物的钢
夹杂物恶劣视场解决方案
可轻松比较实时或静态图像与自动缩放的参考图像。该解决方案包含符合各种标准的参考图像(也可单独购买更多的参考图像)。支持多种模式,包括实时叠加显示和并排比较。
支持的标准:ISO、EN、ASTM、DIN、SEP
含非金属夹杂物的钢 | 铁素体晶粒的微观结构 | ||
解决方案 | 支持标准 |
晶粒度截点法 | ISO 643: 2012、JIS G 0551: 2013、JIS G 0552: 1998、ASTM E112: 2013、DIN 50601: 1985、GOST 5639: 1982、GB/T 6394: 2002 |
晶粒度面积法 | ISO 643: 2012、JIS G 0551: 2013、JIS G 0552: 1998、ASTM E112: 2013、DIN 50601: 1985、GOST 5639: 1982、GB/T 6394: 2002 |
铸铁 | ISO 945-1: 2010、ISO 16112: 2017、JIS G 5502: 2001、JIS G 5505: 2013、ASTM A247: 16a、ASTM E2567: 16a、NF A04-197: 2004、GB/T 9441: 2009、KS D 4302: 2006 |
夹杂物恶劣视场 | ISO 4967(方法A): 2013、JIS G 0555(方法A): 2003、ASTM E45(方法A): 2013、EN 10247(方法P和M): 2007、DIN 50602(方法M): 1985、GB/T 10561(方法A): 2005、UNI 3244(方法M): 1980 |
标准评级图对比 | ISO 643: 1983、ISO 643: 2012、ISO 945: 2008、ASTM E 112: 2004、EN 10247: 2007、DIN 50602: 1985、SEP 4505: 1978、SEP 1572: 1971、SEP 1520: 1998 |
测量涂层厚度 | EN 1071: 2002、VDI 3824: 2001 |