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用于生产线上产品表面检测的性能强大的涡流阵列解决放案

QuickScan iX ECA采集仪器专为在材料生产环境中进行表面检测而设计。与经过现场验证的QuickScan iX PA仪器一样，QuickScan iX ECA仪器的设计也符合可靠的24 V I/O工业标准。每个单元最多可连接8个探头。可将多个采集单元组合在一起，构建对探头或速度要求更严格的配置。

QuickScan iX ECA仪器

为满足工业要求而打造

QuickScan iX ECA仪器是我们用于工业检测系统的新一代涡流采集单元。这款采集单元符合IP55评级标准，可以方便地集成到工业环境中。

自动提离补偿

每台仪器有多达

8

个输入

可扩展，以满足高速检测的需求

每个单元最多可连接8个探头。对于要求更高的配置，如要求更多探头或更高速度的配置，可将多个采集单元组合在一起。

高达

40 kHZ

的采集速率

频率范围从

50 kHz至2 MHz

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