Contáctenos
Contáctenos
Productos
▾
Soluciones para inspeccionar defectos y espesores
▾
Detectores de defectos
▾
Detectores de defectos portátiles por ultrasonido
Instrumentos Phased Array
Instrumentos por corrientes de Foucault
Instrumentos por corrientes de Foucault multielementos
Control de adherencia
Medidores de espesores portátiles
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Sondas y accesorios
Sondas (palpadores)
▾
Sondas monoelemento y duales
Sondas de corrientes de Foucault
Sondas para inspeccionar tubos/tuberías
Sondas Phased Array
BondMaster Probes
Sistemas de inspección automatizados
▾
Sistema de inspección de ruedas
Sistema de inspección de juegos de ruedas (PASAWIS)
Soluciones para inspeccionar barras
Sistemas de inspección de tubos
Inspección de soldaduras por fricción-agitación
Inspección de soldaduras circunferenciales en tuberías
Instrumentos de END para sistemas industriales
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Escáneres industriales para END
▾
Escáneres para inspeccionar soldaduras
Escáneres para inspeccionar la corrosión
Escáneres para inspeccionar componentes aeroespaciales
Accesorios para escáneres
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Software WeldSight
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Software OmniPC 4
Software ScanPlan
Software AeroView™
Analizadores XRF
▾
Analizadores XRF portátiles
▾
Vanta Max y Vanta Core
Vanta Element
Analizadores XRF portátiles y compactos
▾
Vanta™ GX
Analizadores XRF en línea
Soluciones OEM
▾
Analizadores X-STREAM
Principales aplicaciones y soluciones
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Microscopios industriales
▾
Microscopios confocales láser
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Microscopios digitales
▾
Microscopios digitales
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Microscopios de medición
▾
STM7
STM7-BSW
Inspector de limpieza
▾
CIX100
Microscopios ópticos
▾
Microscopios verticales
Microscopios invertidos
Microscopios modulares
Microscopios de inspección para semiconductores y pantallas planas
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopios AR
▾
SZX-AR1
Estereomicroscopios
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Cámaras digitales
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software de análisis de imágenes
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Lentes de objetivo microscópico para el ámbito industrial
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Objetivos de interferometría de luz blanca
Micrometer
Accesorios de microscopios para integración
Preguntas frecuentes sobre los microscopios
Soluciones personalizables
Soluciones personalizadas
Videoscopios y boroscopios
▾
Videoscopios
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite e IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Solución video/boroscópica de largo alcance IPLEX
Videoboroscopios para inspección de turbinas de aire
Videoscopios de inspección para aeronaves
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroscopios
▾
Fibroscopios de diámetro pequeño
Herramienta de Rotación Digital Sweeney
Softwares para el tratamiento de videos
▾
InHelp
Software de modelado 3D 3DAssist
Fuentes de luz
Evident Connect
▾
ViSOL
Industrias
Material didáctico
Aprendizaje
Blog
Servicios y asistencia
▾
Contáctenos
Consultation Reception about Introduction
Servicio al cliente
Asistencia técnica en XRF y XRD
Soluciones de servicio
▾
Overview
Centros de servicio
Soluciones de financiación personalizadas
Olympus Scientific Cloud
Descarga de programas informáticos
User Manuals
Certificaciones ISO
Fichas de datos técnicos de seguridad (FDS)
Código de conformidad y ética de Evident
Información acerca de los productos
Product Service Termination List
Productos descatalogados y obsoletos
▾
MultiScan MS5800 para la inspección de tubos
▾
MultiView: un programa informático multitecnológico
Software TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Arrendamiento
Tienda
Portal de empleo
What is EVIDENT?
Buscar
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Soluciones industriales
Portal de empleo
Portal de empleo
Últimas noticias
Inicio
/
Boletín
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
Últimas noticias
12
nov
Librestream and Olympus Bring Remote NDT/RVI Experts into the Field Virtually
02
nov
New Olympus GX53 Inverted Metallurgical Microscope for Faster Quality Inspections of Manufactured Metal Components; upgraded OLYMPUS Stream image analysis software
31
oct
New NORTEC® 600D Heat Exchanger Tubing Inspection Kit Makes Inspections Faster and Simpler
24
oct
Work Connected with the Olympus Scientific Cloud
18
oct
Precisely Measure Shape and Surface Roughness at the Sub-Micron Level Four-Times Faster than the Previous Model for Enhanced Productivity Launch of the LEXT OLS5000 3D Measuring Laser Microscope
16
oct
Olympus NDT Canada Invests to Support Growth
03
oct
Una herramienta para múltiples aplicaciones: el nuevo analizador XRF portátil Vanta™ VCA mide un amplio rango de elementos
26
sep
Resistencia al alcance de sus manos: Nueva serie L de analizadores portátiles XRF Vanta™ de Olympus
12
jul
Nuevo detector de defectos ultraportátil EPOCH® 6LT con capacidades integrales para la detección de defectos durante inspecciones de acceso por cuerdas o de máxima portabilidad
27
jun
Locate hard-to-see defects on semiconductor wafers or flat panel displays with the customizable and efficient MX63/MX63L Microscopes
17
may
Olympus Employees Donate Nearly 1,200 Volunteer Hours to Greater-Atlantic City Charities
21
mar
El nuevo analizador portátil Vanta por fluorescencia de rayos X (XRF) para el cumplimiento de la directiva RoHS, la seguridad de los productos de consumo y la identificación de metales tóxicos
12
mar
奥林巴斯开年大促 | 买Vanta送测厚仪!机不可失~
09
feb
Notice of Discontinuation: Tungsten Lamp
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Contáctenos
Suscríbase a los boletines de noticias
Social News
Olympus IMS
Inicio
/
Boletín
Imprimir
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.