Modelo S: Un nuevo integrante para las series del analizador XRF Vanta Element™
WALTHAM, Massachusetts. 26 de mayo de 2020. El nuevo analizador de fluorescencia de rayos X (XRF) portátil Vanta Element-S brinda una rápida detección de elementos ligeros a un precio asequible, lo cual lo lleva a formar parte de la familia de instrumentos XRF económicos y de base Vanta Element. El modelo S está equipado de un detector de deriva de silicio (SDD) para analizar elementos ligeros como el magnesio (Mg), el aluminio (Al), el silicio (Si), el azufre (S) y el fósforo (P) en las aleaciones.
Dotado de un funcionamiento idóneo dedicado al reciclaje de chatarra, la identificación positiva de materiales (PMI) a nivel básico y la fabricación de metales/metales preciosos, el Vanta Element-S mide eficazmente metales ferrosos, aluminio, cobre, acero inoxidable, níquel y quilates de oro. El analizador ofrece una clara identificación y comparación de grados en pantalla de los elementos ligeros (magnesio [Mg], aluminio [Al] y silicio [Si]) en segundos. Su detector de deriva de silicio puede distinguir grados de aleación similares como el acero inoxidable 303 a partir del 304, y el aluminio 6061 o 6063 a partir del 1100.
A fin de proporcionar un funcionamiento más prolongado y mayor fiabilidad, estos analizadores están clasificados en IP54 para resistir polvo y humedad y han sido fabricados para superar la prueba de caída de 1,2 m (4 pies) [conforme a la normativa MIL-STD-810G] para asegurar su protección ante caídas o zarandeos ocasionales. Entre otras de sus características de protección destacan: una cubierta frontal de acero inoxidable y una ventana (película) de polipropileno (Prolene®) con soporte de malla Kapton® que se pega y se quita fácilmente para efectuar los reemplazos de la ventana sin necesidad de herramientas en campo. Este modelo de analizador ofrece un funcionamiento continuo bajo temperaturas de –10 °C a 45 °C (de 14 °F a 113 °F).
Los analizadores Vanta Element-S son suministrados con las características esenciales que constituyen el reconocimiento de las series Vanta™: velocidad, fiabilidad, robustez, conectividad y facilidad de uso como los teléfonos inteligentes. Con un peso tan liviano de 1,32 kg, el analizador está preparado para enfrentar los desafíos de todo un día de ensayos, dedicados al análisis de aleaciones y metales. Potenciado gracias a la consolidada Axon Technology™ de Olympus, el modelo S aporta el mismo alto índice de conteo y estabilidad que el resto de las series Vanta para proporcionarle resultados rápidos y un retorno sobre su inversión.
Asimismo, la conectividad inalámbrica opcional permite que su analizador esté listo para la Industria 4.0. Es posible conectarse a la Olympus Scientific Cloud™ para compartir los datos de forma inalámbrica y acceder a las herramientas de administración de instrumentos más relevantes de su aplicación, como también a la aplicación móvil de Olympus o su red. El analizador también tiene una tarjeta microSD™ de un GB para almacenar los resultados y dos puertos USB para exportar datos fácilmente. Para proporcionar flexibilidad añadida, el analizador es compatible con los accesorios Vanta, como el soporte de campo, el soporte de suelo, la protección de sonda y la funda de protección.
Para conocer más acerca del analizador XRF Vanta Element-S u otras de las soluciones industriales de Olympus, visite olympus-ims.com.
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