Обратная связь
Обратная связь
Продукты
▾
Решения НК
▾
Дефектоскопы
▾
Портативные ультразвуковые дефектоскопы
Оборудование с фазированными решётками
Вихретоковые дефектоскопы
Вихретоковые матрицы
Контроль качества композитных материалов
Портативные толщиномеры
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Преобразователи и аксессуары
Датчики и преобразователи
▾
Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
Вихретоковые преобразователи
Преобразователи для контроля труб
Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
BondMaster Probes
Автоматизированные системы контроля
▾
Система контроля колесных пар ж/д вагонов
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Системы контроля прутков
Системы контроля труб
Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
Pipeline Girth Weld Inspection
Оборудование НК
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Промышленные сканеры НК
▾
Сканеры для контроля сварных соединений
Сканеры для коррозионного мониторинга
Сканеры для аэрокосмической промышленности
Комплектующие сканеров
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Программное обеспечение WeldSight™
Программное обеспечение TomoView
Программное обеспечение NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Программное обеспечение OmniPC 4
ScanPlan Software
AeroView™ Software
РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
▾
Портативные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Компактные переносные РФ-анализаторы
▾
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Решения OEM
▾
X-STREAM
Ключевые прикладные решения
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Промышленные микроскопы
▾
Лазерные конфокальные микроскопы
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Цифровые микроскопы
▾
Цифровые микроскопы
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Измерительные микроскопы
▾
STM7
STM7-BSW
Контроль чистоты
▾
CIX100
Оптические микроскопы
▾
Прямые микроскопы
Инвертированные микроскопы
Модульные микроскопы
Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Микроскопы с дополненной реальностью
▾
SZX-AR1
Стереомикроскопы
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Цифровые камеры
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
ПО для анализа изображений
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Микроспектрофотометр
▾
USPM-RU-W
Линзы объектива
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Компоненты микроскопов OEM
Промышленные микроскопы — Часто задаваемые вопросы
Специализированные решения
Customized Solutions
Видеоскопы, бороскопы
▾
Видеоскопы
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
IPLEX с длинной рабочей частью
Wind Turbine Inspection Video Borescopes
Aviation Borescopes for Aircraft Inspection
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Промышленные фиброскопы
▾
Фиброскопы малого диаметра
Sweeney Digital Turning Tool
Программное обеспечение для генерации отчетов
▾
InHelp
3DAssist 3D Modeling Software
Источники света
Evident Connect
▾
ViSOL
Отрасли
Ресурсы
Обучение
Блог
Поддержка
▾
Контакты
Consultation Reception about Introduction
Служба поддержки клиентов
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Сервисные центры
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Программное обеспечение
User Manuals
Сертификаты ISO
MSDS Datasheets
Compliance and Ethics at Evident
Информация о продукции
Product Service Termination List
Оборудование снятое с производства
▾
MultiScan MS5800 для контроля труб
▾
Программное обеспечение MultiView
Программное обеспечение TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Поиск
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Промышленные решения
Карьера
Карьера
Новости
Главная
/
Пресса
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2009
Последние новости
15
Дек
New application: Loop Height Measurement for Wire Bonding
15
Дек
New application: Measuring the Height of Wafer Bumps
15
Дек
New application: Shape Evaluation of Photomask Lens Arrays Molded with a Gray-Scale Mask/Noncontact 3D surface profile measurement using a laser microscope
28
Ноя
New application: Inspection in the MEMS Manufacturing Process/3D shape measurement of a micron-sized area using a laser microscope
28
Ноя
New application: Evaluation of razor blade edges/Micro shape measurement using a laser microscope
16
Ноя
The DP74 color camera supports advanced functions to capture high-quality images of samples.
16
Ноя
Highly regarding Olympus Stream for image analysis makes it even easier to create professional reports within MS Office applications.
16
Ноя
OLYMPUS CIX100 Turnkey Technical Cleanliness Inspection System
10
Ноя
New application: Infrastructure Market – Bridge Inspection through videoscope
02
Ноя
The MagnaFORM Scanner: Weld Inspection with Dynamic Lift-Off Compensation
05
Окт
Olympus LC30 Color Microscope Camera Delivers Value and Performance
31
Авг
Переносной РФ-анализатор Vanta для поисково-разведочного бурения
30
Авг
Использование вихретоковых матриц для выявления питтинговой коррозии на трубах из нержавеющей стали
13
Июл
New application: 10 application notes of Laser Confocal Microscope have been published
01
Май
Olympus CIX90:Turnkey Solution for Technical Cleanliness Inspection
12
Апр
Контроль высокотемпературных компонентов (до 150 C) с помощью нового решения Olympus на фазированных решетках
08
Апр
New application: Videoscope Inspection of Heat Exchangers
07
Апр
XRF (рентгеновский анализ) для контроля процесса извлечения металлов
04
Апр
IPLEX NX: усовершенствованный промышленный видеоскоп Olympus для выполнения особо ответственных задач по осмотру скрытых полостей различного оборудования.
01
Апр
Решения для капиллярного неразрушающего контроля
1
2
»
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Обратная связь
Подписаться на информационный бюллетень
Social News
Olympus IMS
Главная
/
Пресса
Печать
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.