Kontaktujte nás
Kontaktujte nás
Produkty
▾
Defektoskopy
▾
Defektoskopy
▾
Přenosné ultrazvukové defektoskopy
Přístroje Phased Array
Produkty pro zkoušky vířivými proudy
Produkty s technologií využívající soustavu snímačů vířivých proudů
BondTesting
Ruční měření tloušťky materiálu
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Převodníky a příslušenství
Sondy a převodníky
▾
Ultrazvukové převodníky Panametrics
Sondy vířivých proudů
Sondy pro kontrolu trubek
R/D Tech sondy pro apl. fázového pole
Sondy BondMaster
Integrované inspekční systémy
▾
Systém kontroly kol
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Řešení kontroly tyčí
Systémy kontroly trubek
Systém kontroly svaru na principu třecího svařování s promíšením
Kontrola potrubních obvodových svarů
NDT Systems Instrumentation
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Průmyslové skenery
▾
Kontrolní skenery svarů
Skenery pro kontrolu koroze
Skenery pro kontrolu v letectví
Příslušenství ke skenerům
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Software WeldSight™
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
ScanPlan Software
AeroView™ Software
Průmyslové spektrometry
▾
Ruční XRF analyzátory
▾
Vanta Max a Vanta Core
Vanta Element
Kompaktní a přenosné XRF analyzátory
▾
Vanta™ GX
Inline XRF analyzátory
OEM řešení
▾
X-STREAM
Aplikace a řešení – přehled
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Mikroskopy
▾
Konfokální laserové mikroskopy
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Digitální mikroskopy
▾
Digitální mikroskopy
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Měřicí mikroskopy
▾
STM7
STM7-BSW
Inspektor čistoty
▾
CIX100
Světelné mikroskopy
▾
Vzpřímené mikroskopy
Inverzní mikroskopy
Modulární mikroskopy
Polovodičové mikroskopy a inspekční mikroskopy s plochým panelovým displejem
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR mikroskopy
▾
SZX-AR1
Stereo mikroskopy
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Digitální fotoaparáty
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software obrazové analýzy
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objektivové čočky mikroskopů pro průmysl
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
OEM komponenty mikroskopů pro integraci
Mikroskopy – často kladné otázky
Řešení na míru
Řešení na míru
Průmyslové endoskopy
▾
Průmyslové videoskopy
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite a IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Videoskopy IPLEX s dlouhými sondami
Video boroskopy pro kontrolu větrných turbín
Letecké boroskopy pro kontrolu letadel
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroskopy
▾
Fibroskopy - malé průměry
Digitální nástroj pro otáčení turbíny Sweeney
Software pro video boroskop
▾
InHelp
Software pro 3D modelování 3DAssist
Zdroje světla
Evident Connect
▾
ViSOL
Průmyslové odvětví
Zdroje informací
Školení
Blog
Podpora
▾
Kontaktujte nás
Consultation Reception about Introduction
Zákaznický servis
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Servisní centra
Finanční řešení na míru
Olympus Scientific Cloud
Stažení softwaru
User Manuals
Certifikace ISO
MSDS datové listy
Compliance and Ethics at Evident
Důležitá upozornění
Product Service Termination List
Starší produkty
▾
MultiScan MS5800 pro kontrolu potrubí
▾
Software MultiView
Softwarová aplikace TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Hledat
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Průmyslová řešení
Careers
Careers
Headlines
Hlavní stránka
/
Novinky
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2009
Novinky
12
pro
Olympus is pleased to introduce the palm-sized, IPLEX UltraLite videoscope
19
říj
Olympus introduces the new GoldXpert XRF Analyzer
13
říj
Olympus Awards Research & Discovery Grant to The Institute of Archaeology
04
říj
Olympus introduces Thickness Gages and Flaw Detectors to the Web Store
26
zář
Olympus Introduces Industrial Tech Guide App for iPhone and iPad
19
zář
Olympus launches Encoded C-scan Option for the EPOCH 1000i
13
čec
San Francisco State University Awarded Research & Discovery Grant To Study Heavy Metal Content Of Cosmetics And Skin Care Products
03
čen
Industrial Imaging, Measurement And Analysis Topics Covered In Olympus Online Educational Video Gallery
01
čen
Olympus is pleased to introduce the BXiS metallurgical microscope system.
02
kvě
Fingerprint Pharmaceutical Compounds Fast with New Low-Cost, Small Benchtop XRD
02
kvě
New DELTA-50 Handheld XRF Optimal for Rare Earth Elements
01
kvě
The new TomoView software compatible with the OmniScan MX2 data files
01
kvě
38DL PLUS Now Available with Encoded B-Scan Software Option
21
dub
Find a high-end industrial videoscope system, IPLEX FX.
21
dub
Educative videos of surface metrology are now available in the video gallery.
21
dub
Olympus MX microscope sytems for the efficient semiconductor inspections.
10
led
Advanced NDT Series Books Now Available for PDF Download
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontaktujte nás
Zaregistrovat se pro odběr Newsletterů
Social News
Olympus IMS
Hlavní stránka
/
Novinky
Tisk
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Pozor: Povolte JavaScript
Sorry, this page is not available in your country