Kontaktujte nás
Kontaktujte nás
Produkty
▾
Defektoskopy
▾
Defektoskopy
▾
Přenosné ultrazvukové defektoskopy
Přístroje Phased Array
Produkty pro zkoušky vířivými proudy
Produkty s technologií využívající soustavu snímačů vířivých proudů
BondTesting
Ruční měření tloušťky materiálu
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Převodníky a příslušenství
Sondy a převodníky
▾
Ultrazvukové převodníky Panametrics
Sondy vířivých proudů
Sondy pro kontrolu trubek
R/D Tech sondy pro apl. fázového pole
Sondy BondMaster
Integrované inspekční systémy
▾
Systém kontroly kol
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Řešení kontroly tyčí
Systémy kontroly trubek
Systém kontroly svaru na principu třecího svařování s promíšením
Kontrola potrubních obvodových svarů
NDT Systems Instrumentation
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Průmyslové skenery
▾
Kontrolní skenery svarů
Skenery pro kontrolu koroze
Skenery pro kontrolu v letectví
Příslušenství ke skenerům
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Software WeldSight™
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
ScanPlan Software
AeroView™ Software
Průmyslové spektrometry
▾
Ruční XRF analyzátory
▾
Vanta Max a Vanta Core
Vanta Element
Kompaktní a přenosné XRF analyzátory
▾
Vanta™ GX
Inline XRF analyzátory
OEM řešení
▾
X-STREAM
Aplikace a řešení – přehled
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Mikroskopy
▾
Konfokální laserové mikroskopy
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Digitální mikroskopy
▾
Digitální mikroskopy
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Měřicí mikroskopy
▾
STM7
STM7-BSW
Inspektor čistoty
▾
CIX100
Světelné mikroskopy
▾
Vzpřímené mikroskopy
Inverzní mikroskopy
Modulární mikroskopy
Polovodičové mikroskopy a inspekční mikroskopy s plochým panelovým displejem
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR mikroskopy
▾
SZX-AR1
Stereo mikroskopy
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Digitální fotoaparáty
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software obrazové analýzy
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objektivové čočky mikroskopů pro průmysl
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
OEM komponenty mikroskopů pro integraci
Mikroskopy – často kladné otázky
Řešení na míru
Řešení na míru
Průmyslové endoskopy
▾
Průmyslové videoskopy
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite a IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Videoskopy IPLEX s dlouhými sondami
Video boroskopy pro kontrolu větrných turbín
Letecké boroskopy pro kontrolu letadel
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroskopy
▾
Fibroskopy - malé průměry
Digitální nástroj pro otáčení turbíny Sweeney
Software pro video boroskop
▾
InHelp
Software pro 3D modelování 3DAssist
Zdroje světla
Evident Connect
▾
ViSOL
Průmyslové odvětví
Zdroje informací
Školení
Blog
Podpora
▾
Kontaktujte nás
Consultation Reception about Introduction
Zákaznický servis
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Servisní centra
Finanční řešení na míru
Olympus Scientific Cloud
Stažení softwaru
User Manuals
Certifikace ISO
MSDS datové listy
Compliance and Ethics at Evident
Důležitá upozornění
Product Service Termination List
Starší produkty
▾
MultiScan MS5800 pro kontrolu potrubí
▾
Software MultiView
Softwarová aplikace TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Hledat
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Průmyslová řešení
Careers
Careers
Headlines
Hlavní stránka
/
Novinky
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2009
Novinky
22
pro
東北大学未来科学技術共同研究センターおよび日本大学工学部は、株式会社エビデント、株式会社復建技術コンサルタント、株式会社XMATと共同で、コンクリート塩分濃度測定を1ヶ月から30秒に大幅短縮する新奇コンクリート塩分濃度測定技術を開発。本技術は国土交通省の新技術情報提供システム(NETIS)にも登録されています。詳細はニュースリリースをご覧ください。
29
lis
プリント基板(PCB)における不良解析の課題と解析事例紹介
15
lis
V této poznámce k použití uvádíme, jak může použití adaptéru pro čištění koncovek od oleje při nepřímých vizuálních kontrolách převodovek větrných turbín ušetřit čas a zlepšit kvalitu obrazu.
15
lis
Abychom překonali výzvy kontroly převodovky větrné elektrárny – jako jsou stísněné prostory, mastná prostředí a nepřístupná místa –, vytvořili jsme kompaktní, avšak výkonný videoskop IPLEX G Lite-W. Více informací se dozvíte v tiskové zprávě.
11
lis
Stále častěji se můžeme setkávat s umělými kostními štěpy (náhradami), ale u této keramiky na bázi fosforečnanu vápenatého je důležité kontrolovat velikost pórů. V této aplikační poznámce vysvětlíme, jak laserový skenovací mikroskop OLS5100 pomáhá výrobcům právě v tomto směru.
25
říj
We recently opened our new Asia-Pacific office in Singapore. Get all the details in the press release.
16
zář
V naší nejnovější bílé knize uvádíme podrobné vysvětlení metody zobrazování na základě fázové koherence (PCI), nového režimu zobrazování našeho defektoskopu OmniScan X3 64. Přečtěte si o výhodách použití zobrazování metodou PCI a principu, na jakém tato metoda funguje.
29
srp
Olympus Agree on Transfer of Evident to Bain Capital ~Evident to accelerate its growth and innovation~
18
srp
In this white paper, we demonstrate how modern phased array scanners and probes can be used to detect damage from high-temperature hydrogen attack (HTHA) early, before it causes critical damage. We also discuss inspection configurations and data analysis.
16
srp
To advance our nondestructive testing software innovation, we have opened a new office in Montreal Canada that will house a team of software design experts. Learn more in the press release.
19
čec
V tomto příspěvku se dozvíte, jak klíčovou roli mají ruční XRF analyzátory při screeningu těžkých kovů a toxických látek v rámci procesu výroby cementu.
14
čec
Karotáž vrtného kalu se používá ke studiu geologických podmínek při prospekci a otvírce ropných a plynových polí. V tomto příspěvku se dozvíte, jak přenosná technologie rentgenové fluorescence (XRF) dokáže tento proces zrychlit.
12
čec
Využijte výkonné nástroje vzdálené podpory defektoskopů řady OmniScan X3 k modernizaci a optimalizaci způsobů komunikace a práce ve vaší společnosti. V tomto příspěvku se dozvíte, jak na to.
11
čec
Objektivy naší nové řady MXPLFLN umožňují OEM a uživatelům průmyslových mikroskopů využít výhody naší nejmodernější výrobní technologie k získání obrazů s lepší plochostí a větším rozlišením současně s pracovní vzdáleností o délce 3 mm. Více se dozvíte v tiskové zprávě.
01
čec
Režim reálných barev našeho systému pro kontrolu technické čistoty CIX100 zobrazuje skutečné barvy částic a umožňuje tak potvrdit, zda jsou opravdu kovové. V tomto příspěvku se dozvíte, jakým způsobem to funguje.
01
čec
新発売のARマイクロスコープ「SZX-AR1」は、AR(拡張現実)技術を活用し、複雑な顕微鏡下での組立作業や検査業務の作業効率向上に貢献します。実体顕微鏡のズームボディをお持ちであれば、三眼鏡筒を交換することでAR機能を使用できます。詳細はニュースリリースをご覧ください。
30
čen
Měření tloušťky více vrstev automobilového laku, které je součástí zkoušek kvality, je komplikovaný proces. Ale nemusí být. Zjistěte, jak můžete tento proces zjednodušit použitím vhodné zkoušky tloušťky.
28
čen
Lithium-iontové akumulátory jsou standardní součástí elektrických vozidel, proto je jejich bezpečnost a výkonnost kriticky důležitá. V tomto příspěvku se dozvíte, jak se k jejich kontrole používají průmyslové mikroskopy.
20
čen
合成繊維(ナイロン系生地)の表面観察 - デジタルマイクロスコープによる観察と課題解決
16
čen
Seznamte se s tloušťkoměrem 72DL PLUS! V tomto článku popisujeme 8 důvodů, proč vyzkoušet tento inovativní, vysokofrekvenční a vysokorychlostní měřicí přístroj.
1
2
3
»
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontaktujte nás
Zaregistrovat se pro odběr Newsletterů
Social News
Olympus IMS
Hlavní stránka
/
Novinky
Tisk
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Pozor: Povolte JavaScript
Sorry, this page is not available in your country