Обратная связь
Обратная связь
Продукты
▾
Решения НК
▾
Дефектоскопы
▾
Портативные ультразвуковые дефектоскопы
Оборудование с фазированными решётками
Вихретоковые дефектоскопы
Вихретоковые матрицы
Контроль качества композитных материалов
Портативные толщиномеры
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Преобразователи и аксессуары
Датчики и преобразователи
▾
Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
Вихретоковые преобразователи
Преобразователи для контроля труб
Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
BondMaster Probes
Автоматизированные системы контроля
▾
Система контроля колесных пар ж/д вагонов
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Системы контроля прутков
Системы контроля труб
Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
Pipeline Girth Weld Inspection
Оборудование НК
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Промышленные сканеры НК
▾
Сканеры для контроля сварных соединений
Сканеры для коррозионного мониторинга
Сканеры для аэрокосмической промышленности
Комплектующие сканеров
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Программное обеспечение WeldSight™
Программное обеспечение TomoView
Программное обеспечение NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Программное обеспечение OmniPC 4
ScanPlan Software
AeroView™ Software
РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
▾
Портативные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Компактные переносные РФ-анализаторы
▾
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Решения OEM
▾
X-STREAM
Ключевые прикладные решения
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Промышленные микроскопы
▾
Лазерные конфокальные микроскопы
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Цифровые микроскопы
▾
Цифровые микроскопы
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Измерительные микроскопы
▾
STM7
STM7-BSW
Контроль чистоты
▾
CIX100
Оптические микроскопы
▾
Прямые микроскопы
Инвертированные микроскопы
Модульные микроскопы
Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Микроскопы с дополненной реальностью
▾
SZX-AR1
Стереомикроскопы
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Цифровые камеры
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
ПО для анализа изображений
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Микроспектрофотометр
▾
USPM-RU-W
Линзы объектива
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Компоненты микроскопов OEM
Промышленные микроскопы — Часто задаваемые вопросы
Специализированные решения
Customized Solutions
Видеоскопы, бороскопы
▾
Видеоскопы
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
IPLEX с длинной рабочей частью
Wind Turbine Inspection Video Borescopes
Aviation Borescopes for Aircraft Inspection
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Промышленные фиброскопы
▾
Фиброскопы малого диаметра
Sweeney Digital Turning Tool
Программное обеспечение для генерации отчетов
▾
InHelp
3DAssist 3D Modeling Software
Источники света
Evident Connect
▾
ViSOL
Отрасли
Ресурсы
Обучение
Блог
Поддержка
▾
Контакты
Consultation Reception about Introduction
Служба поддержки клиентов
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Сервисные центры
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Программное обеспечение
User Manuals
Сертификаты ISO
MSDS Datasheets
Compliance and Ethics at Evident
Информация о продукции
Product Service Termination List
Оборудование снятое с производства
▾
MultiScan MS5800 для контроля труб
▾
Программное обеспечение MultiView
Программное обеспечение TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Поиск
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Промышленные решения
Карьера
Карьера
Новости
Главная
/
Пресса
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2009
Последние новости
15
Авг
Быстрая идентификация и количественное определение литий-содержащих минералов с помощью дифрактометра Olympus
26
Июл
РФА – Эффективный способ обеспечения безопасности на предприятии
25
Июл
IPLEX NX: Контроль турбин с помощью видеоэндоскопов
25
Июл
New Application: Videoscope solution for working at heights when inspecting the main rotors of helicopters
25
Июл
New Application: Borescope inspection of helicopter main gear boxes
25
Июл
New Application: High resolution imaging solution for the remote visual inspection of small gas turbine aircraft engines
24
Июл
Save Time on Plant Maintenance Inspections Using Videoscopes
11
Июл
Портативные РФ-анализаторы Vanta для анализа свинцовых красок промышленного применения*
11
Июл
Vanta Handheld XRF Tests Plumbing Brasses for Safe Drinking Water Act Compliance
29
Июн
Monitoring chromium content with Vanta handheld XRF to predicting useful pipe life for power generation process piping
28
Июн
Olympus X-ray diffraction analyzers (XRD) provide quick and easy qualitative and quantitative analysis of synthetic zeolites during the manufacturing process.
28
Июн
New Application: Surface roughness measurement of the cam lobe of a camshaft
06
Июн
Frustrated by Inspections That Are out of Reach?
04
Июн
22nd MECHANICAL COMPONENTS & MATERIALS TECHNOLGY EXPO
23
Май
The Portable, Powerful Videoscope: Olympus' new IPLEX G Lite videoscope
21
Май
7 Ways to Improve Your Inspections with the EPOCH 6LT Corrosion Module
16
Май
New application : Measurement of the inner wall waviness and roughness of a turbocharger housing using a laser microscope
16
Май
New application : Evaluating the Roughness of Raceway Grooves in the Inner and Outer Rings of a Ball Bearing
17
Апр
Breaking Down the Bottleneck: Phased Array Analysis in Seconds
10
Апр
Vanta Handheld XRF Gets the Graphene Advantage
«
1
2
3
»
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Обратная связь
Подписаться на информационный бюллетень
Social News
Olympus IMS
Главная
/
Пресса
Печать
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.