Kontaktujte nás
Kontaktujte nás
Produkty
▾
Defektoskopy
▾
Defektoskopy
▾
Přenosné ultrazvukové defektoskopy
Přístroje Phased Array
Produkty pro zkoušky vířivými proudy
Produkty s technologií využívající soustavu snímačů vířivých proudů
BondTesting
Ruční měření tloušťky materiálu
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Převodníky a příslušenství
Sondy a převodníky
▾
Ultrazvukové převodníky Panametrics
Sondy vířivých proudů
Sondy pro kontrolu trubek
R/D Tech sondy pro apl. fázového pole
Sondy BondMaster
Integrované inspekční systémy
▾
Systém kontroly kol
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Řešení kontroly tyčí
Systémy kontroly trubek
Systém kontroly svaru na principu třecího svařování s promíšením
Kontrola potrubních obvodových svarů
NDT Systems Instrumentation
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Průmyslové skenery
▾
Kontrolní skenery svarů
Skenery pro kontrolu koroze
Skenery pro kontrolu v letectví
Příslušenství ke skenerům
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Software WeldSight™
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
ScanPlan Software
AeroView™ Software
Průmyslové spektrometry
▾
Ruční XRF analyzátory
▾
Vanta Max a Vanta Core
Vanta Element
Kompaktní a přenosné XRF analyzátory
▾
Vanta™ GX
Inline XRF analyzátory
OEM řešení
▾
X-STREAM
Aplikace a řešení – přehled
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Mikroskopy
▾
Konfokální laserové mikroskopy
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Digitální mikroskopy
▾
Digitální mikroskopy
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Měřicí mikroskopy
▾
STM7
STM7-BSW
Inspektor čistoty
▾
CIX100
Světelné mikroskopy
▾
Vzpřímené mikroskopy
Inverzní mikroskopy
Modulární mikroskopy
Polovodičové mikroskopy a inspekční mikroskopy s plochým panelovým displejem
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR mikroskopy
▾
SZX-AR1
Stereo mikroskopy
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Digitální fotoaparáty
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software obrazové analýzy
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objektivové čočky mikroskopů pro průmysl
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
OEM komponenty mikroskopů pro integraci
Mikroskopy – často kladné otázky
Řešení na míru
Řešení na míru
Průmyslové endoskopy
▾
Průmyslové videoskopy
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite a IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Videoskopy IPLEX s dlouhými sondami
Video boroskopy pro kontrolu větrných turbín
Letecké boroskopy pro kontrolu letadel
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroskopy
▾
Fibroskopy - malé průměry
Digitální nástroj pro otáčení turbíny Sweeney
Software pro video boroskop
▾
InHelp
Software pro 3D modelování 3DAssist
Zdroje světla
Evident Connect
▾
ViSOL
Průmyslové odvětví
Zdroje informací
Školení
Blog
Podpora
▾
Kontaktujte nás
Consultation Reception about Introduction
Zákaznický servis
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Servisní centra
Finanční řešení na míru
Olympus Scientific Cloud
Stažení softwaru
User Manuals
Certifikace ISO
MSDS datové listy
Compliance and Ethics at Evident
Důležitá upozornění
Product Service Termination List
Starší produkty
▾
MultiScan MS5800 pro kontrolu potrubí
▾
Software MultiView
Softwarová aplikace TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Hledat
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Průmyslová řešení
Careers
Careers
Headlines
Hlavní stránka
/
Novinky
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2009
Novinky
30
pro
Opakované provádění kontrol a měření může být časově náročné, software OLYMPUS Stream vám však může pomoci. Přečtěte si jak.
23
pro
See how the suite of features on the DSX1000 digital microscope improves brake pad inspection.
23
pro
Read about a determined young woman who recently had her research published in an acclaimed scientific journal. Our Vanta XRF analyzer was along for the ride.
17
pro
See what's new in OLYMPUS Stream version 2.4.2!
11
pro
Explore the benefits of the OmniScan X3 flaw detector’s new onboard scan plan tool.
10
pro
Pashmina wool fibers are analyzed to ensure they meet standards, but it’s surprisingly difficult. We developed a fast, simple solution that overcomes the challenges. Read how.
05
pro
V tomto příspěvku na našem blogu se dozvíte, jak se videoskopy používají ke zvýšení spolehlivosti automobilových motorů.
26
lis
Did you know car exhaust systems contain platinum? Check out these car catalyst recycling FAQs to see why recycling them is so important.
25
lis
Wet hydrogen sulfide cracking is a common inspection application in refineries. Learn how TFM makes this challenging inspection easier in this app note.
24
lis
Our AIM modeling tool makes inspections using TFM easier. Read how to use it to select the best propagation mode for a reflector in this app note.
21
lis
Telecentrická optika je zásadní k přesným měřením. Poznejte základy v tomto blogovém příspěvku.
19
lis
Little known fact: The design of the new OmniScan X3 logo has a father-son connection. Read the blog post.
07
lis
Why are the OmniScan X3 flaw detector’s TFM images so good? Read this blog post to find out.
07
lis
Curious about the differences between PAUT and TFM/FMC? We answer your questions in this application note.
07
lis
Our new X3 flaw detector is already a hit with customers. Here are 5 reasons to make the switch.
07
lis
We didn’t just add TFM to our X3 flaw detector—we made it better. Read how in this blog post.
06
lis
Read how our next-gen XRD analyzers can get you reliable mineralogy and phase ID answers in 5 simple steps.
30
říj
The OmniScan X3 flaw detector's acoustic influence map is a big hit with customers, but how does it work? We explain how in this white paper.
14
říj
Our innovative rotating tube inspection system (RTIS) overcomes the challenges of measuring the outside and internal diameters of high-collapse pipes. Learn more!
08
říj
Our commitment to making the world safer has been a core principle throughout our 100-year history. Here are 4 innovations that have helped us realize this goal!
1
2
3
4
»
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontaktujte nás
Zaregistrovat se pro odběr Newsletterů
Social News
Olympus IMS
Hlavní stránka
/
Novinky
Tisk
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Pozor: Povolte JavaScript
Sorry, this page is not available in your country